CFT-SIPH硅光版具备裸片级（单颗）、PCB板级、深腔内部三种形态参数测试能力，全频段范围内 S参数及时域测量功能，O/E、E/E、O/O、E/O测量能力。IV、CV、PI等曲线测试能力。高低温环境温度下芯片测试能力。系统射频校准功能，支持自动校准、手动校准两种模式
