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MPI TITAN™ Multi-Contact Probes
主要特征

1、模块化和快速交付

Multi-Contact Probes可以通过模块化设计、预标准化组件和MPI自己的基于MEMS的探、针针尖技术进行单独配置,从而实现快速交付,通常在五个工作日内交付。该探针为您提供最快的时间到数据您的IC只有一周的交货时间。

2、尖端设计

50 μm间距,超过100万次Touchdowns,紧凑TITAN™ Multi-Contact Probe是最短的可配置探针。它可以实现大IC的宽温度范围表征,并且更方便在屏蔽环境中使用。它在尺寸上与标准射频探针完全兼容,因此它允许象限测试配置而无需进一步重新调整。

TITAN™ Multi-Contact Probe旨在降低现代高度集成射频集成电路的测试成本。它提供了20 μm的接触宽度与最小的针尖间距(从50 μm开始),最长的使用寿命(在Al衬垫上超过100万次Touchdowns),实惠的价格和短的交货时间的独特组合。

3、MEMS针尖技术

TITAN™ Multi-Contact Probe集成了具有严格控制阻抗的MEMS针尖。它们确保高度可重复的校准和测量结果,以及在宽温度范围内均匀的接触特性和无与伦比的接触周期数量。

4、独特的接触结构

像其他MPI射频探针一样,由于独特的突出针尖设计,TITAN™Multi-Contact Probe提供了出色的实时可见性。第一次,即使是没有经验的操作员也可以在IC的衬垫上高度精确地定位探针。

MPI TITAN™ Multi-Contact Probes
产品概述

TITAN™ Multi-Contact Probes扩展了MPI专有的TITAN™射频探测技术,用于射频IC的表征。该探针具有多达15个触点,每个触点的RF带宽高达6 GHz,间距范围为50至300 μm,可完全配置以满足您的测试需求。

用于在线设计捕获表根据IC板布局选择RF信号(S)、逻辑(L)和电源(P)通道来构建探针。